标题：超大规模集成电路可靠性设计与测试技术的新进展
作者：郑久寿 徐奡 刘帅
作者单位：中航工业西安航空计算技术研究所，陕西 西安 710065
关键字：VLSI，可靠性，测试，可信设计
摘要：随着芯片制造工艺的不断发展，超大规模集成电路集成度不断提高，体积不断缩小。纳米工艺一方面带来产品规模、产品性能的提升，另一方面带来了产品可靠性，不可信制造和测试效率、测试覆盖率等诸多问题。为应对这些问题，设计工程师和测试工程师研发了很多新的方法，分析了超大规模集成电路在可靠性设计和测试技术发展的最新进展，最后指出了VLSI可靠性设计和测试技术的发展方向。