标题：基于机器视觉的芯片引脚缺陷检测研究
作者：邓海涛1 吴捷1；李建辉2；潘国成1 赖李洋1 陈耀文1
作者单位：1 汕头大学工学院，广东 汕头 515063；2 汕头华汕电子器件有限公司，广东 汕头 515041
关键字：机器视觉，引脚，在线检测，缺陷检测
摘要：针对芯片引脚人工检测效率低、误检率高、检测系统装置复杂以及检测方法性能低等问题，对芯片引脚种类及缺陷特征方面进行了研究，并对芯片引脚缺陷检测流程进行了分析归纳，提出了一种基于机器视觉的芯片引脚缺陷检测算法，实现了芯片引脚缺陷在线检测。研究结果表明，实验所采用的算法能够准确判断芯片引脚不完整、不共面以及左右偏移缺陷，耗时低，而且准确率高达90%。