标题：基于元件测试的端接技术在LCR测试仪中的研究
作者：陈吉；周鹤峰
作者单位：常州铁道高等职业技术学校，江苏 常州 213011；常州市同惠电子有限公司，江苏 常州 213022
关键字：LCR测试仪，端接技术，连接方法
摘要：简述了LCR测量仪的测量原理，研究了LCR测试仪中元件测试的几种端接技术的特点、误差及阻抗适用范围。每种端接技术的连接方法各有优缺点，必须根据被测元（DUT）的阻抗和要求的测量精度，选择合适的连接方法。