标题：集成电路中用于离群点测试选择的总体框架
作者：岳志明
作者单位：酒泉职业技术学院机电工程系，甘肃 酒泉 735000
关键字：集成电路，离群点检测，框架，目标设备，产量损失
摘要：离群点检测是一种专项检测步骤，检测出潜在的不可靠芯片以进一步提升质量。然而，在实际应用中，往往难以确定哪些测试应该进行离群点检测以及如何设置参数才能检测出离群点并降低产量损失。提出了一种离群点测试选择问题的总体框架，当目标设备已知时，可以为离群点选择测试并设置每种离群点方法的参数。基于真实数据展开实验，实验结果表明，方法只用29个离群点屏障即可检测出89%的目标设备，且额外产量损失只有0.6%。