标题：FPGA逻辑资源测试遍历方法
作者：王晓凯 方向
作者单位：国核自仪系统工程公司，上海 200233
关键字：FPGA，逻辑资源，遍历，扫描链
摘要：随着FPGA/CPLD器件在各种重要领域的应用，使得此类器件的可靠性引起了器件生产厂商和用户的重视。通过对FPGA内部逻辑资源遍历的方法进行详细阐述，提出了一种高故障测试覆盖率的遍历方法。