标题：LabVIEW在芯片测试平台中的应用
作者：任大庆 刘暾 姜晨
作者单位：武汉理工大学自动化学院，湖北 武汉 430070
关键字：LabVIEW，芯片测试，串口通讯
摘要：为了减少芯片测试时间，在LabVIEW环境下，构建了由Agilent34970A、Agilent34401A和测试板作为硬件平台下的测试系统。在该平台中，系统能通过USB-RS232串口改变测试板的测试条件，也可以通过GPIB-USB串口把采集到的数据送往测试平台。实践证明，应用该平台在较大程度上，缩短开发芯片的周期，提高了工程师进行芯片开发的工作效率。