2010年度  第11期


标题:一种嵌入式核心控制系统的研究与应用
作者:张会影
作者单位:蚌埠学院计算机科学与技术系,安徽 蚌埠 233000
关键字:嵌入式技术,温度继电器,核心控制系统,自动测试系统
摘要:传统的温度继电器自动测试系统因在测试精度、稳定性等各方面的不足,已经无法满足越来越多的高尖端领域对温度继电器质量的要求。将嵌入式技术应用于温度继电器自动测试系统的核心控制部分,实现了核心控制系统部分的硬件以及关键应用程序的设计,并将该核心控制系统应用于温度继电器自动测试系统中,通过与传统温度继电器自动测试系统的实验分析对比,该核心控制系统在温度测试的精确度以及系统的稳定性方面都有了很大的提高。