标题：基于LabVIEW的芯片测试平台设计
作者：朱玉璟 钱桂芬 任大庆
作者单位：武汉理工大学自动化学院，湖北 武汉 430070
关键字：LabVIEW，芯片测试，图形化编程
摘要：基于图形化编程语言LabVIEW，设计了一种芯片测试平台，并详细介绍了其系统结构、功能以及设计中用到的相关技术，包括仪器的控制、事件结构，动态载入VI技术以及动态链接库DLL的调用。实践证明，应用此平台在较大程度上减轻了测试工程师的工作量，并大大缩短了芯片测试时间和产品开发周期。