标题：考虑时延的FPGA器件BIST算法研究
作者：马鸣霄1；刘宝阳2；王昊1
作者单位：1 黑龙江科技学院，黑龙江 哈尔滨 150027；2 哈尔滨工程大学，黑龙江 哈尔滨 150001
关键字：GA，LFSR，TC测试，排序算法
摘要：对于FPGA的测试算法，提出了一种基于遗传算法（GA）和LFSR方法的测试向量产生改进算法，采用改进的算法对测试向量对进行选取和排序，并在响应分析时采用改进的多输出电路TC测试法进行响应分析。测试实验在哈尔滨工程大学嵌入式实验室进行，试验结果表明算法的优点是对双矢量进行排序，可对时延故障进行有效的测试。