标题：一种单片机系统RAM的低功耗测试方法
作者：陈卫兵 陈键
作者单位：阜阳师范学院物理系，安徽 阜阳 236041；安徽电子信息职业技术学院计算机系，安徽 蚌埠 233000
关键字：RAM，故障测试，MARCH-G算法，故障覆盖率，格雷码
摘要：介绍了单片机系统RAM测试的一般方法，并在原有的MARCH-G算法的基础上进行了更深入的研究，提出了一种低功耗的改进方法。