标题：半导体分立器件测试系统研制
作者：乔爱民 王艳春；戴敏 史金飞
作者单位：蚌埠学院，安徽 蚌埠 233000；东南大学，江苏 南京 210096
关键字：半导体分立器件测试系统，S3C44B0X，测试回路，工艺参数编辑，测试功能函数
摘要：半导体分立器件测试系统是提升半导体分立器件测试和封装企业自动化水平的一种重要的检测设备。介绍了一种基于ARM微处理器S3C44B0X的半导体分立器件测试系统。在分析了测试系统的测试原理和半导体分立器件待测参数后，概括介绍了测试系统的软硬件设计。