标题：一种RAM自检的新方法
作者：陈卫兵；陈键
作者单位：阜阳师范学院物理系，安徽 阜阳 236041；安徽电子信息职业技术学院计算机系，安徽 蚌埠 233000
关键字：单片机，自检，RAM
摘要：在各种单片机应用系统中，RAM与该应用系统的正常工作紧密相关，RAM的自检可有效地避免RAM不正常工作给系统带来的损害。介绍了RAM的自检的一般方法并且给出了一种新的自检方法。