标题：破坏性物理分析（DPA）技术对国产电子元器件质量保障的作用
作者：戴晨阳 王文辉 楼艳仙 汤立杰
作者单位：浙江中控技术股份有限公司，浙江 杭州 310053
关键字：破坏性物理分析（DPA）；电子元器件；质量与可靠性
摘要：由于中美贸易争端和技术限制，以及台海危机等引发的供应风险，迫使电子元器件供应链转向国内，电子元器件国产化发展已成必然趋势。但是国产元器件与国外进口元器件之间的各方面差异，无法用常规的鉴定方法进行有效区分，所以在国产化替代时，出现了替代难、不敢替代等情况。破坏性物理分析（DPA）作为一项重要的技术手段，以预防失效为目的，分析评估国产化元器件是否存在工艺、材料或制程等各环节的缺陷。主要介绍了DPA技术的作用，以及在前期元器件导入阶段对某电感和某保险丝的DPA分析案例。