2004年度  第12期


标题:单片机系统RAM自检的改进方法
作者:陈卫兵 何娟
作者单位:阜阳师范学院物理系(236032)
关键字:单片机,自检,RAM
摘要:在各种单片机应用系统中,RAM与该应用系统的正常工作紧密相关,RAM的自检可有效地避免RAM不正常工作给系统带来的损害。本文介绍了一般单片机应用系统中RAM自检的常用方法,并且针对地址线发生断路的故障检测提出了一种新的方法及优化措施。