标题：对模拟和数字测试机多工位测试的防呆研究
作者：冯泉水
作者单位：无锡华润安盛科技有限公司，江苏 无锡 214000
关键字：半导体测试；多工位测试；防呆；质量
摘要：随着半导体行业的发展，封测厂大多采用测试机和分选机进行多工位并行测试模式进行大量产。每次生产需要确保工位排线连接正确。当工位连接出错而不能及时发现就会出现漏测的质量问题。针对目前主流的模拟测试机和数字测试机，分别从软、硬件上实现工位防呆进行了说明，对提升测试产品质量有重要意义。