标题：LabVIEW、Matlab在ADC通用化测试平台中的应用
作者：钱宏文 刘继祥 李凯
作者单位：中国电子科技集团公司第五十八研究所，江苏 无锡 214072
关键字：LabVIEW；Matlab；COM组件；通用化；ADC测试
摘要：目前国内大多数ADC测试平台通用性差，一般只能满足一款或几款ADC芯片指标测试，可扩展性差，不能很好满足客户需求。为了解决ADC测试平台通用性差问题，硬件上采用FPGA+SOC的架构，支持LVDS、COMS、JESD204B等接口实现数据的采集和传输，同时还支持多种接口电压，使得该平台能适应各种电压接口的ADC；软件方面采用LabVIEW+Matlab架构，通过更新数据库、配置文件、Matlab算法（COM组件）、FPGA程序等功能模块，以此实现不同型号芯片快算测试。通过对多种不同型号芯片进行测试，对比芯片手册，验证该平台的可行性。