标题：基于STM32F103VB6的起重设备测试装置研究与实现
作者：程晓阳；刘夫贵；郭兆静
作者单位：中海石油中国有限公司蓬勃作业公司，天津 塘沽 300459；泰安艺群机械制造有限公司，山东 泰安 271000；泰开自动化公司，山东 泰安 271000
关键字：起重设备，ARM芯片，测试仪
摘要： 很多起重生产设备厂家需要对其产品进行功能性测试，但是目前市场上测试仪器相对简陋，测试功能单一，测试精度低，而且自身的安全性能差，自动化程度低。采用意法半导体STM32F103VB6的ARM芯片开发一款多功能智能起重设备测试仪，经现场实际运行，不仅大大提高了测试精度，而且提高了工作效率。