标题：IC测试多工位防呆技术的研究与实现
作者：刘成惠
作者单位：江阴职业技术学院电子信息工程系，江苏 江阴 214400
关键字：IC生产测试，软件，硬件，工位接错，开尔文接法，防呆
摘要：在IC生产测试中，经常会采取多工位的测试，这样的测试方法会显著提高测试的效率，提高生产量。然而，此种测试也会带来重大的生产隐患，严重时会带来重大的生产事故。采取传统的人员检查检测来预防，效率不高，错误也难以得到根本的避免。针对这一现象，在IC生产测试中，分别从软、硬件上进行改进，实现了IC生产中防止多个测试工位连接的错误，起到防呆作用。